A.外觀檢驗
B.焊接接頭的內(nèi)部缺陷檢驗
C.耐壓試驗和泄漏試驗
D.管道的硬度檢驗
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A.不宜采用十字接頭
B.不應(yīng)在不銹鋼殼體上直接焊碳鋼支架
C.對低溫壓力容器和受交變載荷的壓力容器必需采用全焊透的結(jié)構(gòu)
D.可以采用十字接頭
A.圓筒部分的縱向焊縫
B.封頭的拼縫
C.長頸法蘭與接管連接的接頭
D.嵌入式接管與殼體對接接頭
A.可用于形狀復(fù)雜的工件
B.同時可檢測出幾個方向的缺陷
C.不需要大型設(shè)備和水電
D.可檢測出近表面的缺陷
A.工件厚度
B.焦點尺寸
C.射線能量
D.焦距
A.外加磁場的強度
B.材料的磁導(dǎo)率
C.材料的磁感應(yīng)強度
D.缺陷的埋藏深度
A.通過多個聲束角度的設(shè)定實現(xiàn)對復(fù)雜形狀工件的檢測
B.通過動態(tài)控制聲束偏轉(zhuǎn),可對工件全深度進行聚焦
C.要想獲得圓弧形波陣面,應(yīng)從左到右等間距激勵振元
D.可在不移動探頭的情況下進行扇面掃描,從而提高檢測效率
A.α射線是一束氦的原子核,帶正電
B.β射線是一束快速運動的電子,帶負電
C.γ射線是一種波長很短的電磁波,不帶電
D.α、β、γ三種射線均不帶電
A.焊接接頭種常見的缺陷是氣孔和冷裂紋
B.母材組織不均勻會導(dǎo)致噪聲較高
C.焊接接頭晶粒粗大影響檢測效果
D.應(yīng)使用CSK-ⅡA試塊調(diào)節(jié)靈敏度
A.按管子橫向缺陷的檢測方法進行檢測
B.利用大K值小晶片短前沿橫波斜探頭進行檢測
C.探頭K值根據(jù)需要確定,當(dāng)一次波掃查不到焊接接頭根部時,可利用三次波檢測
D.試塊的耦合面曲率應(yīng)與被探管徑相同
A.應(yīng)對位于定量線及定量線以上缺陷作出缺陷類型和性質(zhì)的判斷
B.原則上采用直射波檢測缺陷各參數(shù),掃查靈敏度可根據(jù)需要確定,但不得使噪聲回波高度超過滿屏的20%
C.只須對位于判廢線及以上的缺陷進行各項參數(shù)測得
D.只須對新產(chǎn)生的缺陷進行各項參數(shù)測定
最新試題
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
當(dāng)射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
調(diào)節(jié)掃描速度時,應(yīng)使()同時對準相應(yīng)的水平刻度值。
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
光電效應(yīng)發(fā)生的機率隨什么變化()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
不同材料的相對吸收系數(shù)()
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>