A.隨作用物質(zhì)的原子序數(shù)增加而增加
B.隨作用物質(zhì)的原子序數(shù)增加而降低
C.隨作用物質(zhì)的原子序數(shù)減低而增加
D.隨輻射線的強(qiáng)度降低而增加
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.10KeV-500KeV
B.100KeV-10Mev
C.1.02MeV以上
D.10KeV以下
A.10KeV-500KeV
B.100KeV-10MeV
C.1.02Mev
D.10KeV以上
A.使受測(cè)試件發(fā)射電子
B.射線受散射影響底片品質(zhì)
C.增加安全顧慮
D.以上都是
A.hv小于εj
B.hv大于εj
C.hv遠(yuǎn)大于εj
D.hv大于1.02Mev
A.能量為0.2MeV的單能射線
B.能量高于0.2MeV的所有射線成分
C.最大能量為0.2MeV的白色X射線束
D.平均能量為0.2MeV的X射線
A.10
B.20
C.30
D.40
A.對(duì)比度
B.顆粒度
C.不清晰度
D.以上都是
A.表面波法
B.縱波法
C.橫波法
D.聚焦法
最新試題
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()