A.能更準(zhǔn)確地測量缺陷高度
B.能更準(zhǔn)確地測量缺陷長度
C.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷上表面附近的缺陷
D.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷底面附近的缺陷
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A.二次波檢測可以解決焊縫余高過寬影響探頭設(shè)置的困難
B.二次波檢測可以解決直通波盲區(qū)造成的近表面裂紋漏檢
C.二次波檢測以二次反射表面產(chǎn)生的波作為底面波
D.二次波檢測時探頭間距不能太大,以確?;夭ㄔ诘撞úㄐ娃D(zhuǎn)換之前到達(dá)
A.采用的TOFD和脈沖反射法組合檢測
B.檢測筒體縱焊縫時從內(nèi)表面掃查
C.檢測筒體環(huán)焊縫時從內(nèi)表面掃查
D.從內(nèi)表面和外表面進(jìn)行兩次掃查
A.提高缺陷長度測量的精度
B.增大有效檢測范圍
C.消除底面焊縫成形不良的影響
D.有利于發(fā)現(xiàn)焊縫中的橫向缺陷
A.0.85mm
B.0.50mm
C.5.27mm
D.0.23mm
A.在大于50℃時進(jìn)行TOFD檢測
B.在100℃時進(jìn)行TOFD檢測
C.在150℃時進(jìn)行TOFD檢測
D.在200℃時進(jìn)行TOFD檢測
A.波束擴散越大,近場長度N越小,輻射超聲能量越低
B.波束擴散越大,近場長度N越小,國投超聲能量越高
C.波束擴散越大,近場長度N越大,輻射超聲能量越低
D.波束擴散越小,近場長度N越小,輻射超聲能量越氏
A.近場長度N越大,分辨力越差,上表面盲區(qū)越大
B.近場長度N越小,分辨力越好,上表面盲區(qū)越大
C.近場長度N越小,分辨力越差,上表面盲區(qū)越小
D.近場長度N越小,分辨力越差,上表面盲區(qū)越大
A.窄波束擴展來提高縱向分辨力
B.窄波束擴展來確保受檢區(qū)域的履蓋
C.寬波束來提高橫向分辨力
D.寬波束來覆蓋被檢測的整個焊縫區(qū)域
A.底面波受干擾
B.單個衍射信號在直通波和底面波之間
C.兩個相反相位的衍射信號在直通波和底面波之間
D.兩個相反相位的衍射信號在直通波和底面波形轉(zhuǎn)換波之間
A.與底面波相位相同,且與直通波相位相反
B.與始脈沖波相位相同,且與底面波相位相反
C.與始脈沖波相位相同,且與直通波相位相反
D.懷直通波相位相同,且與底面波相位相同
最新試題
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
射線照片上一個細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來,最主要的是決定于()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會出現(xiàn)()等信號波,需要仔細(xì)判別。
當(dāng)射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
調(diào)節(jié)掃描速度時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
影響較大的散射線通常來自()
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述,不正確的一項是()