A.近場長度N越大,分辨力越差,上表面盲區(qū)越大
B.近場長度N越小,分辨力越好,上表面盲區(qū)越大
C.近場長度N越小,分辨力越差,上表面盲區(qū)越小
D.近場長度N越小,分辨力越差,上表面盲區(qū)越大
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A.窄波束擴展來提高縱向分辨力
B.窄波束擴展來確保受檢區(qū)域的履蓋
C.寬波束來提高橫向分辨力
D.寬波束來覆蓋被檢測的整個焊縫區(qū)域
A.底面波受干擾
B.單個衍射信號在直通波和底面波之間
C.兩個相反相位的衍射信號在直通波和底面波之間
D.兩個相反相位的衍射信號在直通波和底面波形轉(zhuǎn)換波之間
A.與底面波相位相同,且與直通波相位相反
B.與始脈沖波相位相同,且與底面波相位相反
C.與始脈沖波相位相同,且與直通波相位相反
D.懷直通波相位相同,且與底面波相位相同
A.直通波、底面波、底面的波形轉(zhuǎn)換信號
B.始脈沖波、直通波、底面的波形轉(zhuǎn)換信號
C.始脈沖波、底面波、底面的波形轉(zhuǎn)換信號
A.楔塊中的耦合劑干了
B.連接到探頭的電纜斷了
C.增益設置低了
D.脈沖重復頻率設置低了
A.25.8μs
B.39.77μs
C.19.1μs
D.31.2μs
A.從直通波之前一點點到剛剛超過底面反射縱波信號處
B.從直通波之后一點點到剛剛超過底面反射縱波信號處
C.從直通波之前一點點到剛剛超過第一種底面反射變型波處
D.從直通波之后一點點到剛剛超過第一種底面反射變型波處
A.焊縫余高的寬度
B.越大越好
C.越小越好
D.通過計算和工件厚度
A.底面波形轉(zhuǎn)換信號
B.直通波信號
C.起始信號
D.底面的反射縱波信號
A.儀器合格證書
B.直通波的到達時間
C.直通波和底面波相位變化
D.B和C都正確
最新試題
光電效應發(fā)生的機率隨什么變化()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
影響較大的散射線通常來自()
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
當射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
射線照片上一個細節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來,最主要的是決定于()
最容易發(fā)生光電效應的射線能量為()