A.委托方有知情權(quán)、批準(zhǔn)權(quán)和監(jiān)督權(quán)
B.有利于委托方和檢測方之間財(cái)務(wù)結(jié)算
C.檢測方不得隨意和擅自帶涂層進(jìn)行磁粉檢測
D.執(zhí)行該條款要慎重
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A.銅
B.低碳鋼
C.奧氏體不銹鋼
D.鎳
A.鋼材化學(xué)成分
B.焊接化學(xué)成分
C.焊接規(guī)范
D.焊接時工件溫度
A.氣孔
B.夾渣
C.裂紋
D.夾鎢
A.檢測用儀器和設(shè)備的性能應(yīng)每年進(jìn)行一次檢定(校準(zhǔn)),并有記錄可查
B.黑度計(jì)至少每6個月校驗(yàn)一次
C.射線設(shè)備更換重要部件應(yīng)及時對曝光曲線進(jìn)行校驗(yàn)或重新制作
D.對使用中的曝光曲線,每年至少應(yīng)校驗(yàn)一次
A.公稱厚度:受檢工件名義厚度,不考慮材料制造偏差和加工減薄
B.焦距:沿射線束中心測定的工件受檢部位表面與膠片之間的距離
C.圓形缺陷:長寬比小于或等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷
D.小徑管:外直徑D0小于或等于100mm的管子
A.雙壁單影透照像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)
B.當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時,應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記,“F”標(biāo)記影象應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時出現(xiàn)在底片上,且應(yīng)在檢測報告中注明
C.單壁透照時允許像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè),但必須進(jìn)行對比試驗(yàn)
D.當(dāng)一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,至少在第一條、中間一條和最后一條焊接接頭處各放一個置像質(zhì)計(jì)
A.X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓
B.γ射線照相時,總的曝光時間應(yīng)不小于輸送源所需時間的10倍
C.X射線照相,當(dāng)焦距為700mm時,曝光量的推薦值為:AB級不小于15mA.min
D.X射線照相在采用較高管電壓時,應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?/p>
A.電源電壓下降超過10%時,黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動超過10%時,對人眼損傷較大
C.電源電壓過低嚴(yán)重影響檢測靈敏度
D.電源電壓過高嚴(yán)重影響黑光燈壽命
A.試塊清洗后,放在酒精溶液中保存
B.施加滲透劑可直接進(jìn)行刷涂
C.施加滲透劑不能用噴涂方法
D.熒光滲透檢測用試塊可用于著色滲透檢測
A.滲透檢測質(zhì)量分級考慮到了缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸和密集程度
B.圓形缺陷的分級既限定了單個缺陷最大尺寸,又限定了缺陷密集程度
C.焊接接頭不允許存在橫向線性缺陷顯示
D.評定框內(nèi)同時存在線性缺陷和圓形缺陷時,應(yīng)進(jìn)行綜合評級
最新試題
調(diào)節(jié)掃描速度時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
一個均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
探頭的分辨力()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識別性主要決定于()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會出現(xiàn)()等信號波,需要仔細(xì)判別。
通常所謂20KV的X射線是指()
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。