A.檢測用儀器和設(shè)備的性能應(yīng)每年進(jìn)行一次檢定(校準(zhǔn)),并有記錄可查
B.黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次
C.射線設(shè)備更換重要部件應(yīng)及時(shí)對曝光曲線進(jìn)行校驗(yàn)或重新制作
D.對使用中的曝光曲線,每年至少應(yīng)校驗(yàn)一次
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A.公稱厚度:受檢工件名義厚度,不考慮材料制造偏差和加工減薄
B.焦距:沿射線束中心測定的工件受檢部位表面與膠片之間的距離
C.圓形缺陷:長寬比小于或等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷
D.小徑管:外直徑D0小于或等于100mm的管子
A.雙壁單影透照像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)
B.當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí),應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記,“F”標(biāo)記影象應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上,且應(yīng)在檢測報(bào)告中注明
C.單壁透照時(shí)允許像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè),但必須進(jìn)行對比試驗(yàn)
D.當(dāng)一張膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí),至少在第一條、中間一條和最后一條焊接接頭處各放一個(gè)置像質(zhì)計(jì)
A.X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓
B.γ射線照相時(shí),總的曝光時(shí)間應(yīng)不小于輸送源所需時(shí)間的10倍
C.X射線照相,當(dāng)焦距為700mm時(shí),曝光量的推薦值為:AB級不小于15mA.min
D.X射線照相在采用較高管電壓時(shí),應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?/p>
A.電源電壓下降超過10%時(shí),黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動(dòng)超過10%時(shí),對人眼損傷較大
C.電源電壓過低嚴(yán)重影響檢測靈敏度
D.電源電壓過高嚴(yán)重影響黑光燈壽命
A.試塊清洗后,放在酒精溶液中保存
B.施加滲透劑可直接進(jìn)行刷涂
C.施加滲透劑不能用噴涂方法
D.熒光滲透檢測用試塊可用于著色滲透檢測
A.滲透檢測質(zhì)量分級考慮到了缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸和密集程度
B.圓形缺陷的分級既限定了單個(gè)缺陷最大尺寸,又限定了缺陷密集程度
C.焊接接頭不允許存在橫向線性缺陷顯示
D.評定框內(nèi)同時(shí)存在線性缺陷和圓形缺陷時(shí),應(yīng)進(jìn)行綜合評級
A.干式顯像劑應(yīng)對其比重進(jìn)行經(jīng)常校驗(yàn)
B.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查粉末凝聚
C.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查殘留熒光
D.干式顯像劑對工件無腐蝕
A.A型對比試塊A、B試塊上具有細(xì)密相對稱的裂紋圖形
B.A型對比試塊是淬火裂紋
C.B型試塊是輻射狀裂紋
D.B型試塊的材質(zhì)是鋁合金
A.Ⅱ級無損檢測人員復(fù)試不合格不能簽發(fā)檢測報(bào)告
B.Ⅱ級無損檢測人員復(fù)試申請初審由省級無損檢測考委會(huì)負(fù)責(zé)
C.Ⅱ級無損檢測人員跨省變更需國家質(zhì)檢總局審核批準(zhǔn)
D.Ⅱ級無損檢測人員資格證由國家質(zhì)檢總局簽發(fā)
A.無損檢測考委不得受聘于無損檢測器材經(jīng)銷商
B.被吊銷無損檢測資格證的Ⅱ級人員,可申請無損檢測Ⅰ級資格
C.考委會(huì)不得受理年滿60歲人員的取證考核申請
D.全國考委會(huì)可以主持特種設(shè)備無損檢測相關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的編制、修訂及評審工作
最新試題
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)()等信號波,需要仔細(xì)判別。
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
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以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()