A.公稱厚度:受檢工件名義厚度,不考慮材料制造偏差和加工減薄
B.焦距:沿射線束中心測定的工件受檢部位表面與膠片之間的距離
C.圓形缺陷:長寬比小于或等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷
D.小徑管:外直徑D0小于或等于100mm的管子
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.雙壁單影透照像質計放置在膠片側
B.當像質計放置在膠片側時,應在像質計上適當位置放置鉛字“F”作為標記,“F”標記影象應與像質計的標記同時出現在底片上,且應在檢測報告中注明
C.單壁透照時允許像質計放置在膠片側,但必須進行對比試驗
D.當一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,至少在第一條、中間一條和最后一條焊接接頭處各放一個置像質計
A.X射線照相應盡量選用較低的管電壓
B.γ射線照相時,總的曝光時間應不小于輸送源所需時間的10倍
C.X射線照相,當焦距為700mm時,曝光量的推薦值為:AB級不小于15mA.min
D.X射線照相在采用較高管電壓時,應保證適當的曝光量
A.電源電壓下降超過10%時,黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動超過10%時,對人眼損傷較大
C.電源電壓過低嚴重影響檢測靈敏度
D.電源電壓過高嚴重影響黑光燈壽命
A.試塊清洗后,放在酒精溶液中保存
B.施加滲透劑可直接進行刷涂
C.施加滲透劑不能用噴涂方法
D.熒光滲透檢測用試塊可用于著色滲透檢測
A.滲透檢測質量分級考慮到了缺陷性質、數量、尺寸和密集程度
B.圓形缺陷的分級既限定了單個缺陷最大尺寸,又限定了缺陷密集程度
C.焊接接頭不允許存在橫向線性缺陷顯示
D.評定框內同時存在線性缺陷和圓形缺陷時,應進行綜合評級
A.干式顯像劑應對其比重進行經常校驗
B.干式顯像劑應經常檢查粉末凝聚
C.干式顯像劑應經常檢查殘留熒光
D.干式顯像劑對工件無腐蝕
A.A型對比試塊A、B試塊上具有細密相對稱的裂紋圖形
B.A型對比試塊是淬火裂紋
C.B型試塊是輻射狀裂紋
D.B型試塊的材質是鋁合金
A.Ⅱ級無損檢測人員復試不合格不能簽發(fā)檢測報告
B.Ⅱ級無損檢測人員復試申請初審由省級無損檢測考委會負責
C.Ⅱ級無損檢測人員跨省變更需國家質檢總局審核批準
D.Ⅱ級無損檢測人員資格證由國家質檢總局簽發(fā)
A.無損檢測考委不得受聘于無損檢測器材經銷商
B.被吊銷無損檢測資格證的Ⅱ級人員,可申請無損檢測Ⅰ級資格
C.考委會不得受理年滿60歲人員的取證考核申請
D.全國考委會可以主持特種設備無損檢測相關技術標準的編制、修訂及評審工作
A.熒光滲透劑的熒光效率不得低于75%
B.被校驗的滲透劑與基準滲透劑的顏色濃度差超過20%時,應作為不合格處理
C.滲透檢測劑包括滲透劑、清洗劑和顯像劑
D.滲透劑必須標明生產日期和有效期,要有產品合格證和使用說明書
最新試題
下列對耦合劑應該具有的特點的描述,不正確的一項是()
不同材料的相對吸收系數()
通常所謂20KV的X射線是指()
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質,其強度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數,此式代表什么現象()
底片清晰度與膠片顆粒度的關系是()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
光電效應發(fā)生的機率隨什么變化()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關系是()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關系是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應滿足()