A.檢測(cè)用儀器和設(shè)備的性能應(yīng)每年進(jìn)行一次檢定（校準(zhǔn)），并有記錄可查
B.黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次
C.射線設(shè)備更換重要部件應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行校驗(yàn)或重新制作
D.對(duì)使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)校驗(yàn)一次

A.公稱厚度：受檢工件名義厚度，不考慮材料制造偏差和加工減薄
B.焦距：沿射線束中心測(cè)定的工件受檢部位表面與膠片之間的距離
C.圓形缺陷：長(zhǎng)寬比小于或等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷
D.小徑管：外直徑D0小于或等于100mm的管子

A.雙壁單影透照像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)
B.當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記，“F”標(biāo)記影象應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明
C.單壁透照時(shí)允許像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)，但必須進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)
D.當(dāng)一張膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí)，至少在第一條、中間一條和最后一條焊接接頭處各放一個(gè)置像質(zhì)計(jì)

A.X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓
B.γ射線照相時(shí)，總的曝光時(shí)間應(yīng)不小于輸送源所需時(shí)間的10倍
C.X射線照相，當(dāng)焦距為700mm時(shí)，曝光量的推薦值為：AB級(jí)不小于15mA.min
D.X射線照相在采用較高管電壓時(shí)，應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?/p>

A.電源電壓下降超過(guò)10%時(shí)，黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動(dòng)超過(guò)10%時(shí)，對(duì)人眼損傷較大
C.電源電壓過(guò)低嚴(yán)重影響檢測(cè)靈敏度
D.電源電壓過(guò)高嚴(yán)重影響黑光燈壽命

A.試塊清洗后，放在酒精溶液中保存
B.施加滲透劑可直接進(jìn)行刷涂
C.施加滲透劑不能用噴涂方法
D.熒光滲透檢測(cè)用試塊可用于著色滲透檢測(cè)

A.滲透檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)考慮到了缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸和密集程度
B.圓形缺陷的分級(jí)既限定了單個(gè)缺陷最大尺寸，又限定了缺陷密集程度
C.焊接接頭不允許存在橫向線性缺陷顯示
D.評(píng)定框內(nèi)同時(shí)存在線性缺陷和圓形缺陷時(shí)，應(yīng)進(jìn)行綜合評(píng)級(jí)

A.干式顯像劑應(yīng)對(duì)其比重進(jìn)行經(jīng)常校驗(yàn)
B.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查粉末凝聚
C.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查殘留熒光
D.干式顯像劑對(duì)工件無(wú)腐蝕

A.A型對(duì)比試塊A、B試塊上具有細(xì)密相對(duì)稱的裂紋圖形
B.A型對(duì)比試塊是淬火裂紋
C.B型試塊是輻射狀裂紋
D.B型試塊的材質(zhì)是鋁合金

A.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員復(fù)試不合格不能簽發(fā)檢測(cè)報(bào)告
B.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員復(fù)試申請(qǐng)初審由省級(jí)無(wú)損檢測(cè)考委會(huì)負(fù)責(zé)
C.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員跨省變更需國(guó)家質(zhì)檢總局審核批準(zhǔn)
D.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員資格證由國(guó)家質(zhì)檢總局簽發(fā)