A.對缺陷深度測量精度影響很大
B.對缺陷高度測量精度影響很大
C.對缺陷長度測量精度影響很大
D.對缺陷偏離軸線位置的測量精度影響很大
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.缺陷深度
B.信號脈沖的長度
C.探頭中心間距
D.晶片尺寸
A.嚴(yán)重影響缺陷高度的測量精度
B.嚴(yán)重影響V形坡口根部缺陷的檢出
C.只在非平行掃查中存在
D.只在平行掃查中存在
A.隨探頭折射角減小而減小,隨底面焊縫寬度的增大而增大
B.隨探頭折射角減小而增大,隨底面焊縫寬度增大而增大
C.隨探頭折射角減小而減小,隨探頭脈沖寬度減小而減小
D.隨探頭折射角減小而增大,隨探頭脈沖寬度減小而增大
A.探頭脈沖周期減少可以減小直通波盲區(qū)
B.如果PCS減小,則直通波盲區(qū)減小
C.增加探頭頻率可以減小直通波盲區(qū)
D.減小探頭晶片尺寸可以減小直通波盲區(qū)
A.近表面深度測量,時間上一個很小的誤差會給深度帶來很大的誤差
B.近表面深度測量,深度上一個很小的誤差會給時間帶來很大的誤差
C.減小探頭中心間距可以改善近表面區(qū)域的分辨力
D.增加探頭頻率可以改善近表面區(qū)域的分辨力
A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信號淹沒在直通波內(nèi)導(dǎo)致漏檢
C.在進行非平行掃查時底面存在盲區(qū)
D.在進行平行掃查是底面存在盲區(qū)
A.1mm
B.0.1mm
C.0.01mm
D.無法給出數(shù)值
A.試塊上反射體的尺寸誤差對檢測結(jié)果影響不大
B.平底孔和橫孔均可用于TOFD波幅校準(zhǔn)
C.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽寬度不宜大于波長的四分之一
D.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角,角度為60°
A.回波頻率變化是由介質(zhì)對不同頻率超聲波衰減不同而引起的
B.對于金屬材料介質(zhì),衰減的主要原因是散射
C.由于高頻部分衰減大,低頻部分衰減小,回波信號中心頻率下降
D.衰減造成各頻率分量聲壓的下降,但回波信號的中心頻率沒有改變
A.寬帶探頭波束中包含各種不同頻率分量
B.高頻分量分布在波束中心的附近
C.低頻分量分布在波束的邊緣
D.用儀器測量周期時間計算得到的直通波頻率,實際上是回波頻率而不是探頭發(fā)出的信號頻率
最新試題
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯誤的()
探頭的分辨力()
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會出現(xiàn)()等信號波,需要仔細判別。
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
當(dāng)射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述,不正確的一項是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()