A.1mm
B.0.1mm
C.0.01mm
D.無法給出數(shù)值
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.試塊上反射體的尺寸誤差對檢測結(jié)果影響不大
B.平底孔和橫孔均可用于TOFD波幅校準
C.校準衍射波幅的窄槽寬度不宜大于波長的四分之一
D.校準衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角,角度為60°
A.回波頻率變化是由介質(zhì)對不同頻率超聲波衰減不同而引起的
B.對于金屬材料介質(zhì),衰減的主要原因是散射
C.由于高頻部分衰減大,低頻部分衰減小,回波信號中心頻率下降
D.衰減造成各頻率分量聲壓的下降,但回波信號的中心頻率沒有改變
A.寬帶探頭波束中包含各種不同頻率分量
B.高頻分量分布在波束中心的附近
C.低頻分量分布在波束的邊緣
D.用儀器測量周期時間計算得到的直通波頻率,實際上是回波頻率而不是探頭發(fā)出的信號頻率
A.窄帶寬
B.中帶寬
C.寬帶寬
D.帶寬與粗晶材料檢測特性無關(guān)
A.提高帶寬有利于縱向分辨力的提高,但將使靈敏度損失
B.壓電復合材料不須采用背阻尼來提高帶寬
C.TOFD探頭的帶寬一般指-6dB帶寬
D.一般規(guī)定帶寬在76-110%范圍的探頭為寬帶探頭
A.可加工形狀復雜的探頭
B.聲速、聲阻抗等參數(shù)易于改變
C.在較大溫度范圍內(nèi)特性穩(wěn)定
D.價格低
A.減少平均數(shù)數(shù)量
B.減少需要進行數(shù)字化采樣的A掃長度
C.減少數(shù)字化采樣的頻率
D.以上都對
A.1024Hz
B.256Hz
C.64Hz
D.16Hz
A.TOFD檢測使用的探頭脈沖更新
B.TOFD檢測使用的探頭頻帶更寬
C.TOFD檢測使用的探頭頻率更高
D.TOFD檢測使用的擴散角更大
A.脈沖重復頻率就是觸發(fā)探頭發(fā)射超聲脈沖數(shù)
B.脈沖重復頻率就是系統(tǒng)接收存儲的信號數(shù)
C.脈沖重復頻率的選擇與數(shù)字化采樣的頻率無關(guān)
D.脈沖重復頻率的選擇與數(shù)字化采樣的A掃長度無關(guān)
最新試題
射線照片上細節(jié)影像的可識別性主要決定于()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
影響較大的散射線通常來自()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應滿足()
最容易發(fā)生康普頓效應的射線能量為()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
通常所謂20KV的X射線是指()