A.嚴重影響缺陷高度的測量精度
B.嚴重影響V形坡口根部缺陷的檢出
C.只在非平行掃查中存在
D.只在平行掃查中存在
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A.隨探頭折射角減小而減小，隨底面焊縫寬度的增大而增大
B.隨探頭折射角減小而增大，隨底面焊縫寬度增大而增大
C.隨探頭折射角減小而減小，隨探頭脈沖寬度減小而減小
D.隨探頭折射角減小而增大，隨探頭脈沖寬度減小而增大
A.探頭脈沖周期減少可以減小直通波盲區(qū)
B.如果PCS減小，則直通波盲區(qū)減小
C.增加探頭頻率可以減小直通波盲區(qū)
D.減小探頭晶片尺寸可以減小直通波盲區(qū)
A.近表面深度測量，時間上一個很小的誤差會給深度帶來很大的誤差
B.近表面深度測量，深度上一個很小的誤差會給時間帶來很大的誤差
C.減小探頭中心間距可以改善近表面區(qū)域的分辨力
D.增加探頭頻率可以改善近表面區(qū)域的分辨力
A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信號淹沒在直通波內(nèi)導(dǎo)致漏檢
C.在進行非平行掃查時底面存在盲區(qū)
D.在進行平行掃查是底面存在盲區(qū)
A.1mm
B.0.1mm
C.0.01mm
D.無法給出數(shù)值
A.試塊上反射體的尺寸誤差對檢測結(jié)果影響不大
B.平底孔和橫孔均可用于TOFD波幅校準(zhǔn)
C.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽寬度不宜大于波長的四分之一
D.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角，角度為60°
A.回波頻率變化是由介質(zhì)對不同頻率超聲波衰減不同而引起的
B.對于金屬材料介質(zhì)，衰減的主要原因是散射
C.由于高頻部分衰減大，低頻部分衰減小，回波信號中心頻率下降
D.衰減造成各頻率分量聲壓的下降，但回波信號的中心頻率沒有改變
A.寬帶探頭波束中包含各種不同頻率分量
B.高頻分量分布在波束中心的附近
C.低頻分量分布在波束的邊緣
D.用儀器測量周期時間計算得到的直通波頻率，實際上是回波頻率而不是探頭發(fā)出的信號頻率
A.窄帶寬
B.中帶寬
C.寬帶寬
D.帶寬與粗晶材料檢測特性無關(guān)
A.提高帶寬有利于縱向分辨力的提高，但將使靈敏度損失
B.壓電復(fù)合材料不須采用背阻尼來提高帶寬
C.TOFD探頭的帶寬一般指-6dB帶寬
D.一般規(guī)定帶寬在76-110%范圍的探頭為寬帶探頭
最新試題
在筒身外壁做曲面周向探傷時（r、R為簡體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為（）
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）
發(fā)生康普頓散射的條件是（）
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）
原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
對軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進行靈敏度調(diào)整時，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）
對于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。
光電效應(yīng)發(fā)生的機率隨什么變化（）