A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信號淹沒在直通波內(nèi)導(dǎo)致漏檢
C.在進行非平行掃查時底面存在盲區(qū)
D.在進行平行掃查是底面存在盲區(qū)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.1mm
B.0.1mm
C.0.01mm
D.無法給出數(shù)值
A.試塊上反射體的尺寸誤差對檢測結(jié)果影響不大
B.平底孔和橫孔均可用于TOFD波幅校準(zhǔn)
C.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽寬度不宜大于波長的四分之一
D.校準(zhǔn)衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角,角度為60°
A.回波頻率變化是由介質(zhì)對不同頻率超聲波衰減不同而引起的
B.對于金屬材料介質(zhì),衰減的主要原因是散射
C.由于高頻部分衰減大,低頻部分衰減小,回波信號中心頻率下降
D.衰減造成各頻率分量聲壓的下降,但回波信號的中心頻率沒有改變
A.寬帶探頭波束中包含各種不同頻率分量
B.高頻分量分布在波束中心的附近
C.低頻分量分布在波束的邊緣
D.用儀器測量周期時間計算得到的直通波頻率,實際上是回波頻率而不是探頭發(fā)出的信號頻率
A.窄帶寬
B.中帶寬
C.寬帶寬
D.帶寬與粗晶材料檢測特性無關(guān)
A.提高帶寬有利于縱向分辨力的提高,但將使靈敏度損失
B.壓電復(fù)合材料不須采用背阻尼來提高帶寬
C.TOFD探頭的帶寬一般指-6dB帶寬
D.一般規(guī)定帶寬在76-110%范圍的探頭為寬帶探頭
A.可加工形狀復(fù)雜的探頭
B.聲速、聲阻抗等參數(shù)易于改變
C.在較大溫度范圍內(nèi)特性穩(wěn)定
D.價格低
A.減少平均數(shù)數(shù)量
B.減少需要進行數(shù)字化采樣的A掃長度
C.減少數(shù)字化采樣的頻率
D.以上都對
A.1024Hz
B.256Hz
C.64Hz
D.16Hz
A.TOFD檢測使用的探頭脈沖更新
B.TOFD檢測使用的探頭頻帶更寬
C.TOFD檢測使用的探頭頻率更高
D.TOFD檢測使用的擴散角更大
最新試題
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯誤的()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
光電效應(yīng)發(fā)生的機率隨什么變化()
探頭的分辨力()
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。