A.可行性更高
B.定量精度更高
C.檢測效率更高
D.缺陷定性更準(zhǔn)確
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A.缺陷與標(biāo)準(zhǔn)反射體的形狀和表面粗糙度不同
B.工件與標(biāo)準(zhǔn)試塊的表面粗糙度不同,操作時對探頭的壓緊力改變
C.缺陷的傾斜角度
D.以不均不會
A.采用較小的PCS和較窄的波束寬度
B.采用較小的PCS和低的頻率
C.采用較大的PCS和較窄的波束寬度
D.采用較大的PCS和較高的頻率
A.缺陷的長度
B.缺陷的高度
C.缺陷距焊縫中線的距離
D.缺陷的傾斜角度
A.一次掃查能夠?qū)崿F(xiàn)大范圍檢測,效率高
B.能同時得到缺陷長度和高度數(shù)據(jù)
C.焊縫余高不影響掃查,操作方便
D.定位定量準(zhǔn)確
A.可增大檢測范圍
B.可提高缺陷高度測量的精度
C.可消除表面盲區(qū)
D.可改進缺陷定位
A.TOFD衍射信號的振幅顯著下降,缺陷難以檢出
B.TOFD衍射信號的振幅輕微下降,一般不影響檢出
C.TOFD衍射信號的振幅顯著上升,對檢出有利
D.以上都不對
A.120mm
B.138mm
C.148mm
D.156mm
A.15.3μs
B.18.1μs
C.20.9μs
D.24μs
A.92mm
B.109mm
C.125mm
D.144mm
A.直通波和缺陷上尖端信號相位相同
B.直通波和缺陷下尖端信號相位相同
C.直通波和底面反射波信號相位相同
D.以上都對
最新試題
探頭的分辨力()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
通常所謂20KV的X射線是指()
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進行靈敏度調(diào)整時,該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
當(dāng)射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()