A.缺陷與標(biāo)準(zhǔn)反射體的形狀和表面粗糙度不同
B.工件與標(biāo)準(zhǔn)試塊的表面粗糙度不同,操作時(shí)對探頭的壓緊力改變
C.缺陷的傾斜角度
D.以不均不會
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A.采用較小的PCS和較窄的波束寬度
B.采用較小的PCS和低的頻率
C.采用較大的PCS和較窄的波束寬度
D.采用較大的PCS和較高的頻率
A.缺陷的長度
B.缺陷的高度
C.缺陷距焊縫中線的距離
D.缺陷的傾斜角度
A.一次掃查能夠?qū)崿F(xiàn)大范圍檢測,效率高
B.能同時(shí)得到缺陷長度和高度數(shù)據(jù)
C.焊縫余高不影響掃查,操作方便
D.定位定量準(zhǔn)確
A.可增大檢測范圍
B.可提高缺陷高度測量的精度
C.可消除表面盲區(qū)
D.可改進(jìn)缺陷定位
A.TOFD衍射信號的振幅顯著下降,缺陷難以檢出
B.TOFD衍射信號的振幅輕微下降,一般不影響檢出
C.TOFD衍射信號的振幅顯著上升,對檢出有利
D.以上都不對
A.120mm
B.138mm
C.148mm
D.156mm
A.15.3μs
B.18.1μs
C.20.9μs
D.24μs
A.92mm
B.109mm
C.125mm
D.144mm
A.直通波和缺陷上尖端信號相位相同
B.直通波和缺陷下尖端信號相位相同
C.直通波和底面反射波信號相位相同
D.以上都對
A.直通波在兩個(gè)探頭之間,沿最短路徑以縱波速度進(jìn)行傳播
B.直通波是一種特殊的表面波
C.直通波的頻率比聲束中心的頻率低
D.直通波有時(shí)可能非常微弱不能識別
最新試題
通常所謂20KV的X射線是指()
不同材料的相對吸收系數(shù)()
物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為()
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。