A.采樣率越大,數(shù)字信號(hào)相對(duì)于模擬信號(hào)的失真就越小
B.采樣率越大,計(jì)算機(jī)保存和處理的數(shù)據(jù)量就越大
C.對(duì)TOFD技術(shù)來(lái)說(shuō),每個(gè)信號(hào)周期大致有5次采樣就可以滿足要求
D.以上都是
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A.信號(hào)重復(fù)頻率的設(shè)定
B.信號(hào)放大器的頻寬
C.數(shù)字化時(shí)的采樣頻率
D.探頭頻率
A.Nyquist極限要求對(duì)模擬信號(hào)采樣的頻率必須大于信號(hào)頻率兩倍
B.Nyquist極限可以保證波的每個(gè)半周期都有一個(gè)采樣點(diǎn)
C.Nyquist極限可以保證信號(hào)幅度不失真
D.Nyquist極限可以保證信號(hào)頻率不失真
A.頻率不失真
B.波峰不失真
C.波形不失真
D.以上都對(duì)
A.探頭帶寬
B.探頭中心間距
C.探頭頻率
D.以上都是
A.顯著下降至少6dB
B.不明顯下降大約-3dB
C.顯著上升至少6dB
D.不明顯上升大約1-3dB
A.顯著下降至少20dB
B.顯著下降至少12dB
C.顯著下降至少6dB
D.不明顯下降大約1dB
A.只有埋藏缺陷
B.只有表面開(kāi)口缺陷
C.各種缺陷,幾乎與指向性無(wú)關(guān)
D.只有面積性缺陷
A.可行性更高
B.定量精度更高
C.檢測(cè)效率更高
D.缺陷定性更準(zhǔn)確
A.缺陷與標(biāo)準(zhǔn)反射體的形狀和表面粗糙度不同
B.工件與標(biāo)準(zhǔn)試塊的表面粗糙度不同,操作時(shí)對(duì)探頭的壓緊力改變
C.缺陷的傾斜角度
D.以不均不會(huì)
A.采用較小的PCS和較窄的波束寬度
B.采用較小的PCS和低的頻率
C.采用較大的PCS和較窄的波束寬度
D.采用較大的PCS和較高的頻率
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底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
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下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
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