A.E(ε)=0
B.E(ε)=1
C.
D.
E.Var(ε)=0
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C.復相關系數(shù)
D.回歸方程的截距
E.回歸方程的斜率
A.提出假設H0:μ≤100;H1:μ>100
B.提出假設H0:μ≥100;H1:μ<100
C.檢驗統(tǒng)計量及所服從的概率分布為
D.如果Z>Zα,則稱與μ0的差異是顯著的,這時拒絕H0
E.檢驗結果認為該類型的電子元件的使用壽命確實有顯著提高
小樣本情況下,總體均值檢驗的統(tǒng)計量可能為()。
A.A
B.B
C.C
D.D
E.E
A.(-∞,-z0.10)和(z0.10,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
B.(-∞,-z0.05)和(z0.05,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
C.(-∞,-t0.10)和(t0.10,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
D.(-∞,-t0.05)和(t0.05,+∞)為原假設的拒絕區(qū)域
E.若檢驗統(tǒng)計量的絕對值越大,則原假設越容易被拒絕
A.實測顯著性水平P值<顯著性水平α
B.P值>α
C.Z<Z0
D.Z>Z0
E.Z>Zα/2
A.在顯著性α水平下,檢驗假設H0:μ=μ0;H1:μ≠μ0的假設檢驗,稱為雙側假設檢驗
B.右側檢驗和左側檢驗統(tǒng)稱為單側檢驗
C.在顯著性α水平下,檢驗假設H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設檢驗,稱為左側檢驗
D.在顯著性α水平下,檢驗假設H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設檢驗,稱為右側檢驗
E.在顯著性α水平下,檢驗假設H0:μ≤μ0;H1:μ>μ0的假設檢驗,稱為右側檢驗
A.原假設為真時被拒絕的概率
B.原假設為真時被接受的概率
C.原假設為偽時被拒絕的概率
D.原假設為偽時被接受的概率
A.z統(tǒng)計量
B.t統(tǒng)計量
C.s統(tǒng)計量
D.m統(tǒng)計量
E.Y統(tǒng)計量
A.H0:π=π0,H1:π≠π0
B.H0:π≥π0,H1:π<π0
C.H0:π≤π0,H1:π>π0
D.H0:π≠π0,H1:π=π0
E.H0:π>π0,H1:π≤π0
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