多項(xiàng)選擇題下列各組變量的關(guān)系屬于相關(guān)關(guān)系的有()。

A.勞動(dòng)生產(chǎn)率與工資水平
B.居民消費(fèi)額與人均國(guó)民收入
C.股價(jià)指數(shù)和上市公司的盈利率
D.廣告費(fèi)與銷售量
E.在價(jià)格一定的條件下,銷售量與銷售額之間的關(guān)系


你可能感興趣的試題

1.多項(xiàng)選擇題下列選項(xiàng)中,指標(biāo)恒為正的有()。

A.相關(guān)系數(shù)
B.判定系數(shù)
C.復(fù)相關(guān)系數(shù)
D.回歸方程的截距
E.回歸方程的斜率

2.多項(xiàng)選擇題為了考察某種類型的電子元件的使用壽命情況,假定該電子元件使用壽命的分布是正態(tài)分布。而且根據(jù)歷史記錄得知該分布的參數(shù)為:平均使用壽命μ0為100小時(shí),標(biāo)準(zhǔn)差σ為10小時(shí)?,F(xiàn)在隨機(jī)抽取100個(gè)該類型的電子元件,測(cè)得平均壽命為102小時(shí),給定顯著性水平α=0.05,為了判斷該電子元件的使用壽命是否有明顯的提高,下列說(shuō)法正確的有()。

A.提出假設(shè)H0:μ≤100;H1:μ>100
B.提出假設(shè)H0:μ≥100;H1:μ<100
C.檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量及所服從的概率分布為
D.如果Z>Zα,則稱與μ0的差異是顯著的,這時(shí)拒絕H0
E.檢驗(yàn)結(jié)果認(rèn)為該類型的電子元件的使用壽命確實(shí)有顯著提高

4.多項(xiàng)選擇題設(shè)總體為正態(tài)總體,總體方差未知,在小樣本條件下,對(duì)總體均值進(jìn)行如下的假設(shè)檢驗(yàn)H0:μ=μ0,(μ0為已知數(shù));Hl:μ≠μ0,α=0.1。則下列說(shuō)法正確的有()。

A.(-∞,-z0.10)和(z0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
B.(-∞,-z0.05)和(z0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
C.(-∞,-t0.10)和(t0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
D.(-∞,-t0.05)和(t0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
E.若檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量的絕對(duì)值越大,則原假設(shè)越容易被拒絕

5.多項(xiàng)選擇題在大樣本的情況下,檢驗(yàn)H0:μ=μo,H1:μ>μo,則()成立時(shí),可接受原假設(shè)。

A.實(shí)測(cè)顯著性水平P值<顯著性水平α
B.P值>α
C.Z<Z0
D.Z>Z0
E.Z>Zα/2

6.多項(xiàng)選擇題下面關(guān)于單側(cè)和雙側(cè)假設(shè)檢驗(yàn)的說(shuō)法正確的有()。

A.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ=μ0;H1:μ≠μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為雙側(cè)假設(shè)檢驗(yàn)
B.右側(cè)檢驗(yàn)和左側(cè)檢驗(yàn)統(tǒng)稱為單側(cè)檢驗(yàn)
C.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為左側(cè)檢驗(yàn)
D.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為右側(cè)檢驗(yàn)
E.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≤μ0;H1:μ>μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為右側(cè)檢驗(yàn)

7.單項(xiàng)選擇題在假設(shè)檢驗(yàn)中,顯著性水平α是()。

A.原假設(shè)為真時(shí)被拒絕的概率
B.原假設(shè)為真時(shí)被接受的概率
C.原假設(shè)為偽時(shí)被拒絕的概率
D.原假設(shè)為偽時(shí)被接受的概率

8.多項(xiàng)選擇題檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量一般包括()

A.z統(tǒng)計(jì)量
B.t統(tǒng)計(jì)量
C.s統(tǒng)計(jì)量
D.m統(tǒng)計(jì)量
E.Y統(tǒng)計(jì)量

9.多項(xiàng)選擇題總體比例假設(shè)檢驗(yàn)的基本形式有()。

A.H0:π=π0,H1:π≠π0
B.H0:π≥π0,H1:π<π0
C.H0:π≤π0,H1:π>π0
D.H0:π≠π0,H1:π=π0
E.H0:π>π0,H1:π≤π0