A.相關(guān)系數(shù)
B.判定系數(shù)
C.復(fù)相關(guān)系數(shù)
D.回歸方程的截距
E.回歸方程的斜率
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A.提出假設(shè)H0:μ≤100;H1:μ>100
B.提出假設(shè)H0:μ≥100;H1:μ<100
C.檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量及所服從的概率分布為
D.如果Z>Zα,則稱與μ0的差異是顯著的,這時拒絕H0
E.檢驗(yàn)結(jié)果認(rèn)為該類型的電子元件的使用壽命確實(shí)有顯著提高
小樣本情況下,總體均值檢驗(yàn)的統(tǒng)計(jì)量可能為()。
A.A
B.B
C.C
D.D
E.E
A.(-∞,-z0.10)和(z0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
B.(-∞,-z0.05)和(z0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
C.(-∞,-t0.10)和(t0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
D.(-∞,-t0.05)和(t0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
E.若檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量的絕對值越大,則原假設(shè)越容易被拒絕
A.實(shí)測顯著性水平P值<顯著性水平α
B.P值>α
C.Z<Z0
D.Z>Z0
E.Z>Zα/2
A.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ=μ0;H1:μ≠μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為雙側(cè)假設(shè)檢驗(yàn)
B.右側(cè)檢驗(yàn)和左側(cè)檢驗(yàn)統(tǒng)稱為單側(cè)檢驗(yàn)
C.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為左側(cè)檢驗(yàn)
D.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為右側(cè)檢驗(yàn)
E.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≤μ0;H1:μ>μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為右側(cè)檢驗(yàn)
A.原假設(shè)為真時被拒絕的概率
B.原假設(shè)為真時被接受的概率
C.原假設(shè)為偽時被拒絕的概率
D.原假設(shè)為偽時被接受的概率
A.z統(tǒng)計(jì)量
B.t統(tǒng)計(jì)量
C.s統(tǒng)計(jì)量
D.m統(tǒng)計(jì)量
E.Y統(tǒng)計(jì)量
A.H0:π=π0,H1:π≠π0
B.H0:π≥π0,H1:π<π0
C.H0:π≤π0,H1:π>π0
D.H0:π≠π0,H1:π=π0
E.H0:π>π0,H1:π≤π0
大樣本情況下,總體均值檢驗(yàn)的統(tǒng)計(jì)量可能為()。
A.A
B.B
C.C
D.D
E.E
A.顯著性水平提高(α變小),意味著拒絕域縮小
B.顯著性水平降低,意味著拒絕域擴(kuò)大
C.顯著性水平提高,意味著拒絕域擴(kuò)大
D.顯著性水平降低,不影響拒絕域的變化
E.顯著性水平提高,不影響拒絕域的變化
最新試題
重點(diǎn)單位的選擇帶有主觀因素。()
相關(guān)分析側(cè)重于考察變量之間相關(guān)關(guān)系的密切程度,回歸分析則側(cè)重于考察變量之間數(shù)值變化規(guī)律。()
普查必須按照一定的周期進(jìn)行調(diào)查。()
估計(jì)線性回歸方程中的回歸參數(shù)β0、β1時,普遍采用的估計(jì)準(zhǔn)則是最小二乘準(zhǔn)則。()
只有當(dāng)相關(guān)系數(shù)接近于1時,才能說明兩變量之間存在高度相關(guān)關(guān)系。()
統(tǒng)計(jì)的初級數(shù)據(jù)和次級數(shù)據(jù)均來源于統(tǒng)計(jì)調(diào)查。()
在運(yùn)用實(shí)驗(yàn)法獲取數(shù)據(jù)時,實(shí)驗(yàn)組和對照組的產(chǎn)生應(yīng)當(dāng)是隨機(jī)的。()
在任何相關(guān)條件下,都可以用單相關(guān)系數(shù)說明變量之間相關(guān)的密切程度。()
重點(diǎn)調(diào)查和典型調(diào)查屬于抽樣調(diào)查的范疇,是非全面調(diào)查。()
當(dāng)抽取的樣本不同時,對同一總體回歸模型估計(jì)的結(jié)果也有所不同。()