A.提出假設(shè)H0:μ≤100;H1:μ>100
B.提出假設(shè)H0:μ≥100;H1:μ<100
C.檢驗統(tǒng)計量及所服從的概率分布為
D.如果Z>Zα,則稱與μ0的差異是顯著的,這時拒絕H0
E.檢驗結(jié)果認為該類型的電子元件的使用壽命確實有顯著提高
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小樣本情況下,總體均值檢驗的統(tǒng)計量可能為()。
A.A
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A.(-∞,-z0.10)和(z0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
B.(-∞,-z0.05)和(z0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
C.(-∞,-t0.10)和(t0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
D.(-∞,-t0.05)和(t0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
E.若檢驗統(tǒng)計量的絕對值越大,則原假設(shè)越容易被拒絕
A.實測顯著性水平P值<顯著性水平α
B.P值>α
C.Z<Z0
D.Z>Z0
E.Z>Zα/2
A.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ=μ0;H1:μ≠μ0的假設(shè)檢驗,稱為雙側(cè)假設(shè)檢驗
B.右側(cè)檢驗和左側(cè)檢驗統(tǒng)稱為單側(cè)檢驗
C.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗,稱為左側(cè)檢驗
D.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗,稱為右側(cè)檢驗
E.在顯著性α水平下,檢驗假設(shè)H0:μ≤μ0;H1:μ>μ0的假設(shè)檢驗,稱為右側(cè)檢驗
A.原假設(shè)為真時被拒絕的概率
B.原假設(shè)為真時被接受的概率
C.原假設(shè)為偽時被拒絕的概率
D.原假設(shè)為偽時被接受的概率
A.z統(tǒng)計量
B.t統(tǒng)計量
C.s統(tǒng)計量
D.m統(tǒng)計量
E.Y統(tǒng)計量
A.H0:π=π0,H1:π≠π0
B.H0:π≥π0,H1:π<π0
C.H0:π≤π0,H1:π>π0
D.H0:π≠π0,H1:π=π0
E.H0:π>π0,H1:π≤π0
大樣本情況下,總體均值檢驗的統(tǒng)計量可能為()。
A.A
B.B
C.C
D.D
E.E
A.顯著性水平提高(α變?。馕吨芙^域縮小
B.顯著性水平降低,意味著拒絕域擴大
C.顯著性水平提高,意味著拒絕域擴大
D.顯著性水平降低,不影響拒絕域的變化
E.顯著性水平提高,不影響拒絕域的變化
A.都是兩個
B.都是一個
C.可能是一個,也可能是兩個
D.只能是正值
E.可能是正值,也可能是負值
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