多項選擇題為了考察某種類型的電子元件的使用壽命情況，假定該電子元件使用壽命的分布是正態(tài)分布。而且根據(jù)歷史記錄得知該分布的參數(shù)為：平均使用壽命μ0為100小時，標準差σ為10小時?，F(xiàn)在隨機抽取100個該類型的電子元件，測得平均壽命為102小時，給定顯著性水平α=0.05，為了判斷該電子元件的使用壽命是否有明顯的提高，下列說法正確的有（）。

A.提出假設(shè)H0：μ≤100；H1：μ＞100
B.提出假設(shè)H0：μ≥100；H1：μ＜100
C.檢驗統(tǒng)計量及所服從的概率分布為
D.如果Z＞Zα，則稱與μ0的差異是顯著的，這時拒絕H0
E.檢驗結(jié)果認為該類型的電子元件的使用壽命確實有顯著提高


你可能感興趣的試題

2.多項選擇題設(shè)總體為正態(tài)總體，總體方差未知，在小樣本條件下，對總體均值進行如下的假設(shè)檢驗H0：μ=μ0，（μ0為已知數(shù)）；Hl：μ≠μ0，α=0.1。則下列說法正確的有（）。

A.（-∞，-z0.10）和（z0.10，+∞）為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
B.（-∞，-z0.05）和（z0.05，+∞）為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
C.（-∞，-t0.10）和（t0.10，+∞）為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
D.（-∞，-t0.05）和（t0.05，+∞）為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
E.若檢驗統(tǒng)計量的絕對值越大，則原假設(shè)越容易被拒絕

3.多項選擇題在大樣本的情況下，檢驗H0：μ=μo，H1：μ＞μo，則（）成立時，可接受原假設(shè)。

A.實測顯著性水平P值＜顯著性水平α
B.P值＞α
C.Z＜Z0
D.Z＞Z0
E.Z＞Zα/2

4.多項選擇題下面關(guān)于單側(cè)和雙側(cè)假設(shè)檢驗的說法正確的有（）。

A.在顯著性α水平下，檢驗假設(shè)H0：μ=μ0；H1：μ≠μ0的假設(shè)檢驗，稱為雙側(cè)假設(shè)檢驗
B.右側(cè)檢驗和左側(cè)檢驗統(tǒng)稱為單側(cè)檢驗
C.在顯著性α水平下，檢驗假設(shè)H0：μ≥μ0；H1：μ＜μ0的假設(shè)檢驗，稱為左側(cè)檢驗
D.在顯著性α水平下，檢驗假設(shè)H0：μ≥μ0；H1：μ＜μ0的假設(shè)檢驗，稱為右側(cè)檢驗
E.在顯著性α水平下，檢驗假設(shè)H0：μ≤μ0；H1：μ＞μ0的假設(shè)檢驗，稱為右側(cè)檢驗

5.單項選擇題在假設(shè)檢驗中，顯著性水平α是（）。

A.原假設(shè)為真時被拒絕的概率
B.原假設(shè)為真時被接受的概率
C.原假設(shè)為偽時被拒絕的概率
D.原假設(shè)為偽時被接受的概率

6.多項選擇題檢驗統(tǒng)計量一般包括（）

A.z統(tǒng)計量
B.t統(tǒng)計量
C.s統(tǒng)計量
D.m統(tǒng)計量
E.Y統(tǒng)計量

7.多項選擇題總體比例假設(shè)檢驗的基本形式有（）。

A.H0：π=π0，H1：π≠π0
B.H0：π≥π0，H1：π＜π0
C.H0：π≤π0，H1：π＞π0
D.H0：π≠π0，H1：π=π0
E.H0：π＞π0，H1：π≤π0

9.多項選擇題顯著性水平與檢驗拒絕域的關(guān)系有（）。

A.顯著性水平提高（α變?。馕吨芙^域縮小
B.顯著性水平降低，意味著拒絕域擴大
C.顯著性水平提高，意味著拒絕域擴大
D.顯著性水平降低，不影響拒絕域的變化
E.顯著性水平提高，不影響拒絕域的變化

10.多項選擇題在統(tǒng)計假設(shè)檢驗中，根據(jù)檢驗的類型，其臨界值（）。

A.都是兩個
B.都是一個
C.可能是一個，也可能是兩個
D.只能是正值
E.可能是正值，也可能是負值