A.入射縱波軸線與通過入射點(diǎn)法線的夾角
B.入射橫波軸線與通過入射點(diǎn)法線的夾角
C.傾斜晶片與探測(cè)面的夾角
D.入射波軸線與界面的夾角
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.0.2mm
B.0.4mm
C.0.8mm
D.1.6mm
A.水溫升高,聲速變大
B.水溫升高,聲速變小
C.水溫升高,聲速不變
D.呈波浪型變化
A.波束邊沿最大
B.波束中心最大
C.波束中心與邊沿一樣大
D.與波束寬度成反比
A.圓柱形曲面
B.球形曲面
C.正方形
D.棱形
A.介質(zhì)的密度與彈性
B.質(zhì)點(diǎn)在介質(zhì)中振動(dòng)的方式
C.a和b都是
D.聲阻抗
A.界面聲阻抗
B.楊氏模量
C.泊松比
D.折射率
A.高
B.低
C.相同
D.以上都不對(duì)
A.5
B.5.0及以上
C.5.0及以上,非色盲
D.5.0,非色盲
A.靈敏度
B.標(biāo)定
C.角度
D.頻率
A.縱裂紋
B.橫裂紋
C.缺陷
D.缺損
最新試題
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來,最主要的是決定于()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()