A.工件的重量
B.工件的數(shù)量
C.工件的材料
D.工件的尺寸
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A.相關(guān)
B.有明顯色差
C.無關(guān)
D.無明顯色差
A.縱向的表面和近表面缺陷
B.橫向的表面和近表面缺陷
C.斜向的表面和近表面缺陷
D.以上都是
A.高含量的紅色氧化鐵;
B.高頑磁性和低磁導率;
C.低頑磁性和低磁導率;
D.高磁導率和低矯頑力。
A.由于缺陷的漏磁場
B.由于截面突變等形狀變化處
C.V由于材料組織變化處
D.以上都是
A.有小裂紋
B.無小裂紋
C.無大裂紋
D.無裂紋
A.日常性能
B.季度性能
C.年度性能
D.以上都不對
A.鑄鋼
B.碳鋼
C.奧式體鋼
D.沉淀硬化不銹鋼
A.250A
B.500A
C.1000A
D.1500A
A.加修
B.報廢
C.鏇修
D.鏟槽
A.通電法
B.穿棒法
C.線圈法
D.磁軛法
最新試題
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
探頭的分辨力()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯誤的()
使用變型波檢測的一個優(yōu)點是()
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()