A.縱波
B.板波
C.表面波
D.切變波
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A.±3%和±1%
B.±2%和±1%
C.±5%和±1%
D.+3%和-1%
A.分辨力
B.重復頻率
C.水平線性
D.分辨頻率
A.分辨力和靈敏度
B.指向性和近場長度
C.折射角和入射角
D.指示長度
A.用直徑較小的探頭進行檢驗
B.用頻率較低的縱波進行檢驗
C.將接觸法檢驗改為液浸法檢驗
D.將縱波檢驗改為橫波檢驗
A.反射橫波與入射波平行但方向相反
B.入射角為30°時的反射率最高
C.入射角為45°時的反射率最高
D.入射角為60°時的反射率最低
A.入射聲壓
B.反射聲強
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
A.約等于近場長度
B.約等于近場長度的0.6倍
C.約為近場長度的1.6倍
D.以上都可能
A.密度
B.彈性模量
C.泊松比
D.以上全部
A.c=f·λ
B.λ=c·f
C.f=c·λ
D.λ=f/c
A.縱波
B.橫波
C.板波
D.表面波
最新試題
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯誤的()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
光電效應(yīng)發(fā)生的機率隨什么變化()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。
一般認為表面波探測的有效深度約為()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()