單項(xiàng)選擇題探頭中晶片壓電材料的作用是()。
A、將電能轉(zhuǎn)換為機(jī)械能
B、將機(jī)械能轉(zhuǎn)換成電能
C、將熱能轉(zhuǎn)換為機(jī)械能
D、A和B
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工藝評(píng)定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
題型:多項(xiàng)選擇題
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
題型:多項(xiàng)選擇題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
題型:多項(xiàng)選擇題
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
題型:多項(xiàng)選擇題
超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。
題型:多項(xiàng)選擇題
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
在沒有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
題型:多項(xiàng)選擇題
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
題型:多項(xiàng)選擇題
對(duì)滲透探傷無影響的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題