A.外觀檢查
B.無(wú)損探傷
C.力學(xué)性能
D.金相試驗(yàn)
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A.隔聲層與缺陷延伸方向平行
B.隔聲層與缺陷延伸方向垂直
C.垂直與缺陷延伸方向移動(dòng)
D.平行與缺陷延伸方向移動(dòng)
A.底面回波幅度降低量≥12dB 者
B.缺陷回波幅度達(dá)到距離-波幅曲線者
C.不論缺陷回波高低，認(rèn)為是線狀或片狀缺陷者
D.底面回波幅度增加量≥12dB 者
A.開(kāi)箱點(diǎn)數(shù)
B.技術(shù)性能
C.質(zhì)量保證能力
D.技術(shù)資料歸檔
A.著色滲透劑是無(wú)色的
B.與顯像劑發(fā)生反應(yīng)后產(chǎn)生顏色
C.使用的顯像劑粉末呈堿性
D.使用的顯像劑粉末呈酸性
A.暗室白光照度應(yīng)小于20lx
B.黑光照度不小于1000μW/cm2
C.黑光照度不小于20μW/cm2
D.隨時(shí)對(duì)缺陷做出標(biāo)記和記錄
A.斷續(xù)條狀缺陷
B.密集小裂紋
C.密集夾渣
D.密集氣孔
A.噴涂法施加，噴嘴離被檢面300-400mm
B.噴涂方向與被檢面夾角為30°-40°
C.在同一地點(diǎn)反復(fù)多次施加顯像劑
D.使用噴灌前要充分搖動(dòng)使顯像劑均勻
A.對(duì)顏色的差別辨別能力提高
B.對(duì)比度的差別辨別能力降低
C.對(duì)光強(qiáng)度的微小差別不敏感
D.對(duì)光強(qiáng)度的微小差別敏感
A.曝光不足
B.顯影溫度低
C.顯影液濃度過(guò)大
D.顯影液攪動(dòng)不及時(shí)
A.有顯像劑，有顯示
B.沒(méi)有顯像劑，有顯示
C.沒(méi)有顯像劑，無(wú)顯示
D.有顯像劑，無(wú)顯示
最新試題
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說(shuō)法正確的有（）。
單晶體金屬特點(diǎn)有（）。
超聲波探傷儀要盡量避免在（）場(chǎng)合使用。
表面波檢測(cè)中，利用表面波檢測(cè)（）效果好。
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí)，鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)（）現(xiàn)象。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是（）。
常規(guī)的縱波聲場(chǎng)或橫波聲場(chǎng)，聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的，所以有（）。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷，在不同的方向上檢測(cè)，缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài)，判定為（）。
冷裂紋常見(jiàn)的有（）。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括（）驗(yàn)收。