A.0.4
B.0.5
C.0.6
D.0.7
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.85mm處
B.91mm處
C.100mm處
D.200mm處
A.0.25mm
B.0.15mm
C.0.10mm
D.0.05mm
A.6dB
B.15dB
C.20dB
D.25dB
A.CSK-1A
B.TCS-R試塊
C.CS-1試塊
D.CS-1-5
A.20mm
B.25mm
C.91mm
D.100mm
A.CS-1-5
B.TCS-R試塊
C.CS-1試塊
D.CSK-1A
A.CS-1-5
B.TCS-R試塊
C.CS-1試塊
D.CSK-1A
A.20dB
B.24dB
C.26dB
D.28dB
A.20dB
B.30dB
C.35dB
D.40dB
A.CS-1試塊
B.CSK-1A試塊
C.TCS-R試塊
D.CS-1-5試塊
最新試題
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
影響較大的散射線通常來自()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()