在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

對(duì)軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）