A.提高缺陷縱向分辨力
B.提高缺陷橫向分辨力
C.提高信噪比
D.提高缺陷尺寸測量精度
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A.±1mm
B.±3mm
C.±5mm
D.±7mm
A.缺陷位置的測量準(zhǔn)確性
B.缺陷長度的測量準(zhǔn)確性
C.缺陷高度的測量準(zhǔn)確性
D.以上A和B
A.提高信號幅度
B.減少噪聲
C.減少盲區(qū)的影響
D.以上都對
A.減少洪水層厚度變化對圖像的影響
B.提高缺陷深度的測量精度
C.提高缺陷長度的測量精度
D.以上都對
A.4個
B.8個
C.12個
D.16個
A.數(shù)字化樣本的間隔是0.01μs,樣本數(shù)量為2000個
B.數(shù)字化樣本的間隔是0.02μs,樣本數(shù)量為1000個
C.數(shù)字化樣本的間隔是0.04μs,樣本數(shù)量為800個
D.數(shù)字化樣本的間隔是0.05μs,樣本數(shù)量為500個
A.信號非常弱或探頭距離記錄系統(tǒng)非常遠時
B.頻率非常高時
C.工件厚度非常大時
D.粗晶材料檢測時
A.0到255
B.0到1023
C.0到4095
D.0到8192
A.5MHz的高通濾波器和20MHz的低通濾波器
B.5MHz的低通濾波器和20MHz的高通濾波器
C.3MHz的高通濾波器和15MHz的低通濾波器
D.3MHz的低通濾波器和15MHzr的高通濾波器
A.超聲信號中所有大于5M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
B.超聲信號中所有大于10M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
C.超聲信號中所有大于20M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
D.不可能發(fā)生混疊
最新試題
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述,不正確的一項是()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。