A.接收電路
B.發(fā)射電路
C.微處理器
D.掃描電路
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A.接觸法檢測(cè)
B.水浸法檢測(cè)
C.橫波軸向掃查檢測(cè)
D.橫波周向掃查檢測(cè)
A.停影時(shí)間
B.顯影溫度
C.顯影液配方
D.顯影時(shí)間
A.反射體回波高度
B.距離
C.缺陷位置
D.缺陷大小
A.調(diào)整檢測(cè)靈敏度
B.比較缺陷大小
C.缺陷當(dāng)量
D.根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)缺陷評(píng)級(jí)
A.非極性基一端親油朝向油中
B.非極性基一端親水朝向水中
C.極性基一端親油朝向油中
D.極性基一端親水朝向水中
A.油基滲透溶劑
B.水基滲透溶劑
C.熒光染料
D.潤(rùn)滑劑
A.磁帶
B.磁粉
C.霍爾元件
D.磁敏二極管
A.精密鑄鋼件
B.精密鑄鋁件
C.各種形狀工件
D.焊接件
A.高溫情況下磁體中分子做熱運(yùn)動(dòng)
B.高溫情況下破壞磁疇的有規(guī)則排列
C.高溫情況下磁體的磁性削弱
D.高溫情況下磁體的磁性增強(qiáng)
A.球孔直徑非常小
B.超聲波垂直入射球面
C.超聲波全反射
D.超聲波全穿透
最新試題
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí)，首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查，不滿足要求的底片不予評(píng)定，質(zhì)量檢查項(xiàng)目有（）。
確定滲透劑是否具有高的滲透能力的主要參數(shù)有（）。
按照受檢材料的相容性，可將滲透劑分為（）滲透劑。
各種電氣設(shè)備都有各自的保護(hù)系統(tǒng)，X 射線機(jī)的保護(hù)系統(tǒng)主要有（）。
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有（），而把不需要的光線用濾光片過(guò)濾掉。
底片靈敏度的檢查內(nèi)容包括像質(zhì)計(jì)（）要達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。
屬于γ射線探傷設(shè)備的操作故障有（）。
后乳化型熒光滲透劑本身不含乳化劑，不起乳化作用，需經(jīng)乳化后才能用水清洗，不易被去除，可以用于（）的檢驗(yàn)。
常用的顯像方法包括（）。
目前主要用的是數(shù)顯式黑度計(jì)，主要作用有（）。