A.型號(hào)
B.擺放位置
C.絲號(hào)
D.規(guī)格
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.銀的絡(luò)合物濃度增大
B.銀的絡(luò)合物濃度減小
C.鹵化物濃度增大
D.鹵化物濃度減小
A.表面有褶紋不得再用
B.人工缺陷的面朝向
C.使用前用溶劑清洗防銹油
D.使用后可用清水清洗
A.空氣
B.地面
C.試件
D.墻壁
A.對(duì)于高能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì)，易發(fā)生光電效應(yīng)
B.對(duì)于高能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì)，易發(fā)生電子對(duì)效應(yīng)
C.對(duì)于低能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì)，易發(fā)生光電效應(yīng)
D.射線與物質(zhì)發(fā)生的作用與原子序數(shù)無(wú)關(guān)
A.煤氣
B.乙炔
C.酸
D.硫化氫
A.標(biāo)準(zhǔn)試塊
B.對(duì)比試塊
C.模擬試塊
D.人工試塊
A.環(huán)形件繞電纜法
B.螺管線圈法
C.繞電纜法
D.線圈感應(yīng)電流法
A.連續(xù)檢測(cè)小批量工件
B.連續(xù)檢測(cè)大批量工件
C.鍵槽的拐角處
D.車削加工面
A.水磁懸液
B.油磁懸液
C.乙醇磁懸液
D.磁懸液噴灌
A.高剩磁材料
B.低剩磁材料
C.低磁導(dǎo)率材料
D.高磁導(dǎo)率材料
最新試題
用縱波直探頭確定缺陷平面位置時(shí)需要考慮的問(wèn)題有（）。
用半價(jià)層描述的某種能量的射線是指（）。
目前主要用的是數(shù)顯式黑度計(jì)，主要作用有（）。
探傷儀面板上負(fù)責(zé)掃描電路的控制旋鈕有（）。
定影液在使用過(guò)程中定影劑不斷消耗，造成（），使定影速度減慢，所需的定影時(shí)間越來(lái)越長(zhǎng)，此現(xiàn)象稱為定影液的老化。
按照受檢材料的相容性，可將滲透劑分為（）滲透劑。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí)，首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查，不滿足要求的底片不予評(píng)定，質(zhì)量檢查項(xiàng)目有（）。
下列關(guān)于顯像劑粉末吸附缺陷中滲透劑的說(shuō)法正確的有（）。
標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的（），這是標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求。
滲透檢測(cè)通常在（）前進(jìn)行，表面處理后局部加工時(shí)需再次檢測(cè)。