A.不能用小立體角法測量
B.需要考慮軔致輻射效應(yīng)
C.需要考慮電子散射問題
D.不需要真空的測量環(huán)境
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A.不需要考慮源的自吸收
B.厚樣品在實(shí)際中很少見
C.樣品厚度達(dá)到一定值后，再增大其厚度，測量的活度基本不變
D.樣品不同位置薄層中的α粒子出射的概率是一樣的
A.探測腔室一般要抽真空
B.為提高探測效率，α源要盡可能貼近探測器
C.源發(fā)射α粒子是各向同性的
D.一般可以作為點(diǎn)源處理
A.由于吸收作用，探測器的窗對活度測量會有影響
B.α源與探測器間的空氣也會影響測量的活度結(jié)果
C.對于β射線的測量，散射情況一般需要考慮
D.由于反散射的影響，需要用高Z材料做β源托，降低反散射
A.點(diǎn)源情況下的源的形狀
B.探測器的種類
C.探測器的大小尺寸
D.入射粒子的種類
A.放射源一般都比較小，所以都可以看做點(diǎn)源
B.只有源的直徑遠(yuǎn)小于探測器距源的距離時才可以將其看做點(diǎn)源
C.只有源的直徑遠(yuǎn)小于探測器敏感體積的尺寸時才可以將其看做點(diǎn)源
D.非點(diǎn)源情況下，無法用解析的方法計算探測效率
A.測量開始的時間
B.探測器本征探測效率
C.環(huán)境本底的計數(shù)率
D.源與探測器幾何位置關(guān)系
A.相對法需要一個已知活度的源作參照
B.使用相對法測量更加簡便，所以是活度測量的基本方法
C.絕對法復(fù)雜一些，要結(jié)合各種實(shí)際的情況因素進(jìn)行考慮
D.為保證結(jié)果的精確性，使用絕對法測量時可以多次測量進(jìn)行分析
A.源的活度和能量是常見的輻射探測目標(biāo)
B.測量源的位置與遠(yuǎn)近距離可以用在輻射成像等領(lǐng)域上
C.暫時無法通過測量的信息分析入射粒子的種類
D.可以測量粒子的飛行時間
A.HPGe和Ge（Li）用于組成γ譜儀，Ge較高的密度和原子序數(shù)有利于γ射線探測
B.Si（Li）探測器可以作低能量的γ射線和X射線測量
C.Si（Li）探測器可以作β粒子或其他外部入射的電子的探測，因?yàn)樗有驍?shù)低，反散射小
D.Si（Li）探測器也適合測量高能γ射線
A.電流脈沖寬度約為μs量級
B.反符合技術(shù)有助于提高探測器峰康比
C.85立方厘米的高純鍺探測器的相對探測效率約為19%
D.能量線性很好
最新試題
下列對γ能譜的描述，錯誤的是（）。
測量厚樣品α源，下列說法正確的是（）。
下列哪項(xiàng)不屬于中子探測方法？（）
關(guān)于24Na-9Be中子源的描述不正確的是（）。
關(guān)于延遲符合，下列描述錯誤的是（）。
常見的241Am-9Be中子源中，9Be的作用是（）。
下列對真偶符合比的描述正確的是（）。
幾何因素對探測器測量活度的影響描述正確的是（）。
關(guān)于241Am-9Be中子源的描述不正確的是（）。
對于（D，D）反應(yīng)和（D，T）反應(yīng)，下列描述正確的是（）。