對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）