A.滲透
B.清洗
C.觀察
D.顯像
E.上述都包括
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.近表面缺陷
B.表面和近表面缺陷
C.表面缺陷
D.內(nèi)部缺陷
A.與被檢表面形成高對比度
B.與被檢表面形成低對比度
C.能粘附在被檢工件表面上
D.磁導(dǎo)率越低越好
A.縱向磁場、橫向缺陷
B.周向磁場、縱向缺陷
C.縱向磁場、縱向缺陷
D.周向磁場、橫向缺陷
A.表面裂紋形成的強(qiáng)
B.近表面裂紋形成的強(qiáng)
C.兩者無區(qū)別
D.上述都不對
A.材料被磁化難易程度
B.材料中磁場的穿透深度
C.工件需要退磁時間的長短
D.保留磁場的能力
A.檢測非鐵磁性材料表面和近表面缺陷
B.檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷
C.檢測鐵磁性材料內(nèi)部缺陷
D.各種不同材料的分選
A.探測熱影響區(qū)裂縫
B.探測可能影響斜探頭探測結(jié)果的分層
C.提高焊縫兩側(cè)母材驗收標(biāo)準(zhǔn),以保證焊縫質(zhì)量
D.以上都對
A.讓工件充分冷卻
B.焊縫材料組織需穩(wěn)定
C.冷裂紋有延時產(chǎn)生的特點
D.以上都對
A.底波降低或消失
B.噪聲或雜波增大
C.超聲波嚴(yán)重衰減
D.以上都有
A.平底孔
B.長橫孔
C.大平底
D.以上都可以
最新試題
一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為()
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述,不正確的一項是()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
使用變型波檢測的一個優(yōu)點是()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯誤的()
一個均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。