A.水平線性
B.分辨率
C.動態(tài)范圍
D.垂直線性
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A、53°
B、35°
C、31°
D、47°
A.1N
B.N/2
C.N/3
D.以上都不對
A.旁聲束上
B.半擴(kuò)散角以外
C.中心軸線上
D.擴(kuò)散角與旁聲束交界部位
A.縱波
B.橫波
C.表面波
D.板波
A.縱波
B.橫波
C.表面波和板波
D.A、B和C
A、產(chǎn)生波動
B、產(chǎn)生振蕩
C、產(chǎn)生電磁波
D、產(chǎn)生光波
A.波速、頻率、性質(zhì)之間關(guān)系
B.水平、深度、聲程之間關(guān)系
C.距離、波幅、當(dāng)量大小之間關(guān)系
D.以上都不對
A.SGD曲線
B.GDS曲線
C.SDG曲線
D.DGS曲線
A.波幅增益量
B.缺陷當(dāng)量尺寸
C.距離
D.以上都不對
A.探頭的晶片面積
B.距探頭距離
C.偏離探頭程度
D.以上都不對
最新試題
在沒有外加磁場作用時,鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
用雙晶探頭檢測時,為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測細(xì)長缺陷應(yīng)使探頭()。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
超聲檢測時對工件無腐蝕的耦合劑是()。
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說法正確的有()。
工藝評定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
非熒光磁粉檢測時,可見光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
冷裂紋常見的有()。