以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）

對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái)，最主要的是決定于（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。

若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）