A.一級(jí)修
B.二級(jí)修
C.三級(jí)修
D.四級(jí)修
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A.一級(jí)修
B.二級(jí)修
C.三級(jí)修
D.四級(jí)修
A.禁止
B.不得
C.允許
D.可以
A.60
B.70
C.80
D.90
A.大于
B.小于
C.小于或等于
D.大于或等于
A.大于
B.小于
C.小于或等于
D.大于或等于
A.微機(jī)超聲波
B.多通道手工超聲波
C.熒光磁粉
D.超聲波
A.輛貨統(tǒng)-424
B.輛貨統(tǒng)-424A
C.輛貨統(tǒng)-428
D.輛貨統(tǒng)-428A
A.輛貨統(tǒng)-424
B.輛貨統(tǒng)-424A
C.輛貨統(tǒng)-428
D.輛貨統(tǒng)-428A
A.1.0T
B.0.1mT
C.10Gs
D.0.1G
A.0.7T
B.0.7mT
C.70G
D.0.7Gs
最新試題
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
影響較大的散射線通常來自()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
通常所謂20KV的X射線是指()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()