采用以（）為橫坐標，以平底孔直徑標注各當量曲線作成實用AVG曲線。

對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。

在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

（）件對不同類型的檢測對象和要求，采用的方式各有不同。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

用于測量黑光強度的現代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。

掃描儀器的掃查的間距通常根據探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

當波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時，移動探頭使波束中心（），回波高度當隨之下降。

渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的（）具有較好的代表性，因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。

渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產生（）