A、1/3
B、1/4
C、1/2
D、3/4
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A、射線源尺寸
B、射線源到膠片距離
C、X射線能量
D、X射線強(qiáng)度
A、產(chǎn)生射線照相底片對比度低
B、不可能檢出大缺陷
C、產(chǎn)生射線照相底片不清晰
D、產(chǎn)生發(fā)灰的射線照片
A、35%~-60%之間
B、60%~90%之間
C、50%~75%之間
D、50%~60%之間
A、產(chǎn)生白色斑點(diǎn)
B、出現(xiàn)樹枝狀的輕微條痕
C、發(fā)生灰霧
D、藥膜脫落
A、平放
B、直立
C、堆放
D、任意放置
A、鉛增感屏?xí)a(chǎn)生可見光和熒光
B、鉛屏可吸收散射線
C、防止背散射造成膠片灰霧
D、鉛屏受X射線和γ射線照射會發(fā)生二次電子
A、較黑斑塊顯示
B、較白斑塊顯示
C、無顯示
D、以上任何一種
A、增大衍射斑的影響
B、減少或消除衍射斑的影響
C、增大焦距的影響
D、以上任何一種
A、感光度
B、梯度
C、灰霧度
D、以上都對
A、采用非增感型膠片、鉛增感組合
B、采用低管壓、高電流照相
C、采用增感型膠片與熒光增感屏組合
D、射線管焦點(diǎn)小
最新試題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
鑄件超聲檢測的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。