單項(xiàng)選擇題在射線檢驗(yàn)所采用的能量范圍（約100keV～10MeV）內(nèi)射線穿過(guò)鋼鐵強(qiáng)度衰減的最主要原因是（）。

A、光電效應(yīng)
B、湯姆遜效應(yīng)
C、康普頓效應(yīng)
D、電子對(duì)產(chǎn)生


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1.單項(xiàng)選擇題當(dāng)改變透照電壓時(shí)，衍射斑紋在射線照片上的影像一般（）。

A、無(wú)變化
B、有明顯變化
C、衍射斑紋的形成與管電壓無(wú)關(guān)
D、以上全是

2.單項(xiàng)選擇題射線照相底片的檢測(cè)靈敏度取決于底片的（）。

A、對(duì)比度
B、清晰度
C、a和b
D、以上都不是

3.單項(xiàng)選擇題光子能量的增大而（）減弱。

A、康普頓效應(yīng)
B、電子對(duì)
C、光電效應(yīng)
D、散射效應(yīng)

4.單項(xiàng)選擇題膠片處理過(guò)程中不可少藥液是顯影液、定影液和（）。

A、停顯液
B、醋酸
C、水
D、以上都不對(duì)

5.單項(xiàng)選擇題膠片處理過(guò)程中必不可少的三種藥液是（）。

A、停顯液、醋酸、水
B、顯影液、醋酸、水
C、顯影液、定影液、水
D、顯影液、定影液、醋酸

6.單項(xiàng)選擇題為提高觀片效果，觀片室的環(huán)境硬盡可能地（）。

A、暗
B、亮
C、與透過(guò)底片的光亮度相同
D、以上都不對(duì)

8.單項(xiàng)選擇題能夠在工件上充分記錄工件厚度范圍的叫作（）。

A、底片靈敏度
B、底片寬容度
C、底片清晰度
D、源的強(qiáng)度

9.單項(xiàng)選擇題工件對(duì)比度受（）因素影響最大。

A、試件厚度差
B、射線的質(zhì)
C、散射線
D、以上均不對(duì)

10.單項(xiàng)選擇題在散射線的分類(lèi)中，一般把散射輻射與透射輻射所成的夾角等于小于90°時(shí)稱(chēng)之為（）。

A、前散射
B、背散射
C、側(cè)面散射
D、以上都不是

最新試題

波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng)，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測(cè)量方法。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

鑄件超聲檢測(cè)的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射，相應(yīng)的可檢缺陷尺寸（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來(lái)表示缺陷的（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題