缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng)，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測量（）測量功能的通用型儀器。

缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為（）mm，峰值波長為365mm。

渦流檢測線圈的互感線圈一般由（）構(gòu)成。

特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì)，它反映子實(shí)體滿足需要的（）

磁性測厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測量方法。

鑄件超聲檢測的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射，相應(yīng)的可檢缺陷尺寸（）

（）件對不同類型的檢測對象和要求，采用的方式各有不同。