A.電容器并聯(lián)充電，而后并聯(lián)放電。
B.電容器串聯(lián)充電，而后串聯(lián)放電。
C.電容器串聯(lián)充電，而后并聯(lián)放電。
D.電容器并聯(lián)充電，而后串聯(lián)放電。

A.電阻本身發(fā)熱（或環(huán)境溫度變化）造成阻值變化。
B.電暈放電造成測(cè)量誤差。
C.絕緣支架的漏電造成測(cè)量誤差。
D.等電位屏蔽。

A.一般在試品的低壓繞組（或其它繞組）線端施加兩倍的三相對(duì)稱額定電壓，其它繞組開路。
B.被試變壓器繞組具有中性點(diǎn)的，中性點(diǎn)可以不接地。
C.沒有中性點(diǎn)的繞組應(yīng)選擇合適的線端接地。
D.額定電壓為110V及以下的全絕緣變壓器，在感應(yīng)耐壓試驗(yàn)時(shí)各繞組線端的感應(yīng)線電壓應(yīng)不超過對(duì)地耐壓水平。

A.試驗(yàn)電壓的初始值應(yīng)低于1/3試驗(yàn)電壓，并應(yīng)與測(cè)量配合盡快升至試驗(yàn)電壓，保持規(guī)定的試驗(yàn)時(shí)間，然后將電壓迅速降低到1/3試驗(yàn)電壓下，最后切斷試驗(yàn)電源。
B.試驗(yàn)電壓的初始值應(yīng)低于1/3試驗(yàn)電壓，并應(yīng)與測(cè)量配合盡快升至試驗(yàn)電壓，然后將電壓迅速降低到1/3試驗(yàn)電壓下。
C.試驗(yàn)電壓的初始值應(yīng)低于1/2試驗(yàn)電壓，并應(yīng)與測(cè)量配合盡快升至試驗(yàn)電壓，保持規(guī)定的試驗(yàn)時(shí)間，然后將電壓迅速降低到1/3試驗(yàn)電壓下。
D.試驗(yàn)電壓的初始值應(yīng)低于2/3試驗(yàn)電壓，并應(yīng)與測(cè)量配合盡快升至試驗(yàn)電壓，然后將電壓迅速降低到1/3試驗(yàn)電壓下。

A.中性點(diǎn)固定接地為85kV，不固定接地為140kV。
B.中性點(diǎn)固定接地為85kV，不固定接地為200kV。
C.中性點(diǎn)固定接地為200kV，不固定接地為85kV。
D.中性點(diǎn)固定接地為140kV，不固定接地為200kV。

A.這一目的對(duì)于全絕緣變壓器來說完全能達(dá)到。
B.這一目的對(duì)于分級(jí)絕緣變壓器來說完全能達(dá)到。
C.這一目的對(duì)于分級(jí)絕緣變壓器，則只能考核繞組對(duì)鐵軛的端絕緣，繞組部分引線對(duì)地絕緣強(qiáng)度。
D.這一目的對(duì)于分級(jí)絕緣變壓器來說至于繞組對(duì)地和繞組之間的絕緣強(qiáng)度是無法達(dá)到考核目的。

A.短時(shí)工頻耐壓試驗(yàn)是對(duì)絕緣施加一次相應(yīng)的額定耐受電壓的平均值，其持續(xù)時(shí)間為1分鐘。
B.工頻耐壓試驗(yàn)時(shí)，變壓器的被試?yán)@組及其引線和與它相連的元件均承受同一試驗(yàn)電壓，而非被試?yán)@組則短路接地。
C.對(duì)于全絕緣變壓器，繞組首末端的工頻絕緣水平和工頻耐受電壓值一致。
D.對(duì)于分級(jí)絕緣變壓器，工頻耐壓的試驗(yàn)值和繞組末端的工頻絕緣水平一致。

A.溫度因數(shù)K與直流電阻的損耗成正比，與附加損耗成反比。
B.溫度因數(shù)K與直流電阻的損耗成正比，與附加損耗成正比。
C.溫度因數(shù)K與直流電阻的損耗成反比，與附加損耗成反比。
D.溫度因數(shù)K與直流電阻的損耗成反比，與附加損耗成正比。

A.115℃
B.60℃
C.45℃
D.75℃

A.變壓器的鐵心材料
B.變壓器的勵(lì)磁歷史
C.變壓器的試驗(yàn)電流大小
D.變壓器以外的電路參數(shù)