單項(xiàng)選擇題射線探傷中用得最多的方法是()。

A.焊縫
B.鑄件
C.封閉物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)
D.以上都對(duì)


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1.單項(xiàng)選擇題射線檢測(cè)采用（）。

A. α射線、β射線和γ射線
B. X射線、γ射線和中子射線
C. 紅外線、紫外線和宇宙線
D. β射線和γ射線

2.單項(xiàng)選擇題在射線探傷中應(yīng)用最多的射線是（）。

A. X、α射線
B. X、γ射線
C. γ、β射線
D. X、β射線

3.單項(xiàng)選擇題射線檢測(cè)所采用的X射線、γ射線屬于（）。

A. 機(jī)械波
B. 沖擊波
C. 電磁波
D. 微波

4.單項(xiàng)選擇題下列不屬于射線檢測(cè)方法的是（）。

A. Ｘ射線
B. γ射線
C. β射線
D. 中子射線

5.單項(xiàng)選擇題射線檢測(cè)不適用的對(duì)象為（）。

A. 焊縫
B. 鑄件
C. 封閉物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)
D. 大型鍛件

6.單項(xiàng)選擇題射線檢測(cè)方法分為（）。

A. Ｘ射線檢測(cè)
B. γ射線檢測(cè)
C. 中子射線檢測(cè)
D. 以上都是

7.單項(xiàng)選擇題鍛件探傷中，引起底波降低或消失的原因有（）。

A. 探頭接觸不良
B. 遇到了材質(zhì)衰減大的部位
C. 工件底面不平整
D. 以上都對(duì)

8.單項(xiàng)選擇題方形鍛件垂直法探傷時(shí)，熒光屏上出現(xiàn)一游動(dòng)缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是（）。

A. 平行且靠近探測(cè)面
B. 與聲速方向平行
C. 與探測(cè)面成較大角度
D. 平行且靠近底面

9.單項(xiàng)選擇題鍛件接觸法探傷中，如果探傷儀的“重復(fù)頻率”調(diào)得過高，可能發(fā)生（）。

A. 熒光屏“噪聲”信號(hào)過高
B. 時(shí)基線傾斜
C. 始脈沖消失
D. 容易出現(xiàn)“幻像波”

10.單項(xiàng)選擇題鍛件探傷靈敏度的校正方法（）。

A.沒有的固定的方法
B.采用底波方法
C.采用試塊方法
D.B和C都對(duì)