A.受溫度的影響
B.受壓力的影響
C.不受磁場(chǎng)的影響
D.不受電場(chǎng)的影響
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A.連續(xù)譜
B.標(biāo)識(shí)譜
C.連續(xù)標(biāo)識(shí)譜
D.特征譜
A.比庫(kù)侖力大10倍的力
B.短程力
C.比庫(kù)侖力大100倍的力
D.無(wú)距離限制的力
A.使帶電原子位置同向移動(dòng)
B.使帶電原子位置異向移動(dòng)
C.使正負(fù)電荷分居晶體兩側(cè)
D.使正負(fù)電荷抵消
A.易于非基礎(chǔ)檢測(cè)
B.不易于非基礎(chǔ)檢測(cè)
C.可實(shí)現(xiàn)在線(xiàn)實(shí)時(shí)檢測(cè)
D.無(wú)法實(shí)現(xiàn)在線(xiàn)實(shí)時(shí)檢測(cè)
A.砂型鑄件
B.鋁、鎂合金
C.鈦合金
D.陶瓷件
A.濃度較低時(shí)，能達(dá)到吸附飽和狀態(tài)
B.濃度較高時(shí)，能達(dá)到吸附飽和狀態(tài)
C.濃度較低時(shí)，有較強(qiáng)的表面張力
D.濃度較高時(shí)，有較強(qiáng)的表面張力
A.脈沖寬度
B.頻率響應(yīng)
C.脈沖頻譜
D.最大使用靈敏度
A.管電壓
B.管電流
C.焦距
D.曝光時(shí)間
A.振動(dòng)
B.波動(dòng)
C.動(dòng)力學(xué)
D.運(yùn)動(dòng)學(xué)
A.空間上的三維向量
B.某一點(diǎn)的分量
C.某一線(xiàn)的均值
D.某一面的分量
最新試題
常用的顯像方法包括（）。
屬于γ射線(xiàn)探傷設(shè)備的操作故障有（）。
用縱波直探頭確定缺陷平面位置時(shí)需要考慮的問(wèn)題有（）。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有（）。
組成滲透液的物質(zhì)很多，為保證其使用性能，除了主要的紅色染料外，又添加了（）等物質(zhì)。
定影液在使用過(guò)程中定影劑不斷消耗，造成（），使定影速度減慢，所需的定影時(shí)間越來(lái)越長(zhǎng)，此現(xiàn)象稱(chēng)為定影液的老化。
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗，后沖孔，再滾壓。因此，缺陷的取向比軸類(lèi)鍛件和餅類(lèi)鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對(duì)這類(lèi)鍛件一般采用（）進(jìn)行檢測(cè)。
磁化曲線(xiàn)是表征鐵磁性材料磁特性的曲線(xiàn)，用以表示（）。
含碳量是金屬材料可焊性的直接影響因素，下列選項(xiàng)中（）具有較差的可焊性。
下列關(guān)于無(wú)限大固體介質(zhì)中聲速的說(shuō)法錯(cuò)誤的有（）。