單項(xiàng)選擇題直接射向缺陷的波就是()
A.直通波
B.直射波
C.反射波
D.折射波
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1.單項(xiàng)選擇題當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()
A.全部
B.兩倍
C.三倍
D.一半
2.單項(xiàng)選擇題在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
A.反比
B.倍數(shù)
C.正比
D.無(wú)關(guān)
3.單項(xiàng)選擇題在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
A.缺陷
B.損壞
C.缺損
D.殘缺
4.單項(xiàng)選擇題采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
A.聲程
B.聲音
C.聲波
D.音程
5.單項(xiàng)選擇題對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
A.水平刻度線
B.垂直刻度線
C.刻度線
D.水平線
6.單項(xiàng)選擇題對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低
7.單項(xiàng)選擇題對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
A.長(zhǎng)度方向
B.周長(zhǎng)方向
C.圓周方向
8.單項(xiàng)選擇題對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
A.周長(zhǎng)方向
B.長(zhǎng)度方向
C.圓周方向
9.單項(xiàng)選擇題掃查方式一般視試件的()而定。
A.形狀
B.形狀及入射方向
C.入射方向
D.方向
10.單項(xiàng)選擇題當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
A.理論計(jì)算
B.頻率單一
C.消失
D.聲稱
最新試題
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為()mm,峰值波長(zhǎng)為365mm。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()件對(duì)不同類型的檢測(cè)對(duì)象和要求,采用的方式各有不同。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
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題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題